Химия полимеров

 
Пожалуйста, используйте вкладки для отображения типа продукта (Эксперименты, Наборы, Продукция или Литература/Программное обеспечение).
 

Basic methods in imaging of micro and nanostructures with AFM (Atomic Force Microscopy)



Principle

Approaching a sharp silicon tip mounted on a cantilever to a sample surface leads to an atomic scale interaction. The result is a bend of the cantilever which is detected by a laser. In static mode the resulting deflection is used to investigate the topography of the ...

 
Детали

Продукт No: P2538000

Поиск информации доступен пока только на английском языке!

X-ray expert unit

Этот продукт является мир впервые

PHYWE представляет новую рентгеновскую установку: лучшую в мире по качеству, функциональности, эргономике, иновации и дизайну!

Подробнее